GB 8648.3-1988 钴化学分析方法 钼蓝分光光度法测定硅量
作者:标准资料网 时间:2024-04-29 06:24:41 浏览:9999
来源:标准资料网
基本信息
标准名称: | 钴化学分析方法 钼蓝分光光度法测定硅量 |
中标分类: |
冶金 >>
金属化学分析方法 >>
重金属极其合金分析方法 |
替代情况: | 调整为YS/T 281.3-1994 |
发布日期: | 1900-01-01 |
实施日期: | 1989-01-01 |
首发日期: | 1900-01-01 |
作废日期: | 1900-01-01 |
出版日期: | 1900-01-01 |
页数: | 3页 |
适用范围
没有内容
前言
没有内容
目录
没有内容
引用标准
没有内容
所属分类: 冶金 金属化学分析方法 重金属极其合金分析方法
基本信息
标准名称: | 半导体分立器件 3DK206型功率开关晶体管详细规范 |
中标分类: |
电子元器件与信息技术 >>
电子元器件与信息技术综合 >>
技术管理 |
发布部门: | 中华人民共和国电子工业部 |
发布日期: | 1994-09-30 |
实施日期: | 1994-12-01 |
首发日期: | 1900-01-01 |
作废日期: | 1900-01-01 |
归口单位: | 中国电子标准化研究所 |
起草单位: | 衡阳市晶体管厂 |
起草人: | 夏贤学、欧阳映和 |
出版社: | 中华人民共和国电子工业部 |
出版日期: | 1994-12-01 |
页数: | 10页 |
适用范围
本规范规定了3DK206A~I型NPN硅功率开关晶体管的详细要求。每种器件均按GJB33《半导体分立器件总规范》的规定,提供产品保证的三个等级(GP、GT、GCT级)。
前言
没有内容
目录
没有内容
引用标准
没有内容
所属分类: 电子元器件与信息技术 电子元器件与信息技术综合 技术管理
【英文标准名称】:Microbeamanalysis-Electronprobemicroanalysis-Guidelinesforthedeterminationofexperimentalparametersforwavelengthdispersivespectroscopy
【原文标准名称】:微电子束分析.电子探测微观分析.波长色散光谱学用实验参数的测定指南
【标准号】:BSISO14594-2004
【标准状态】:现行
【国别】:英国
【发布日期】:2004-08-11
【实施或试行日期】:2004-08-11
【发布单位】:英国标准学会(BSI)
【起草单位】:BSI
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:分析;参数;微量分析;波长色散;光谱学;电子束;分析方法;分析方法;定义
【英文主题词】:Analysis;Analysismethods;Definition;Definitions;Electronbeams;Methodsofanalysis;Microanalysis;Parameters;Spectroscopy;Wavelengthdispersive
【摘要】:ThisInternationalStandardgivesthegeneralguidelinesforthedeterminationofexperimentalparametersrelatingtotheprimarybeam,thewavelengthspectrometerandthesamplethatneedtobetakenintoaccountwhencarryingoutelectronprobemicroanalysis.Italsodefinesproceduresforthedeterminationofbeamcurrent,currentdensity,deadtime,wavelengthresolution,background,analysisarea,analysisdepthandanalysisvolume.ThisInternationalStandardisintendedfortheanalysisofawell-polishedsampleusingnormalbeamincidence,andtheparametersobtainedmayonlybeindicativeforotherexperimentalconditions.ThisinternationalstandardisnotdesignedtobeusedforenergydispersiveX-rayspectroscopy.
【中国标准分类号】:A42
【国际标准分类号】:71_040_50
【页数】:24P;A4
【正文语种】:英语