SJ 2506-1984 紧固件 游动螺母
作者:标准资料网 时间:2024-05-15 10:35:24 浏览:9828
来源:标准资料网
基本信息
| 标准名称： | 紧固件 游动螺母 |
| 英文名称： | Slider nuts |
| 中标分类： |
机械 >>
机械综合 >>
技术管理 |
| 替代情况： | SJ 746-1973 |
| 发布日期： | 1984-09-04 |
| 实施日期： | 1985-03-01 |
| 首发日期： | 1900-01-01 |
| 作废日期： | 1900-01-01 |
| 出版日期： | 1900-01-01 |
| 页数： | 3页 |
适用范围
没有内容
前言
没有内容
目录
没有内容
引用标准
没有内容
所属分类： 机械 机械综合 技术管理
【英文标准名称】:StandardTestMethodforDeterminingtheAxialDisassemblyForceofTaperConnectionsofModularProstheses
【原文标准名称】:测定模块化假体锥形连接的轴向拆解力的标准试验方法
【标准号】:ASTMF2009-2000
【标准状态】:现行
【国别】:美国
【发布日期】:2000
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(ASTM)
【起草单位】:ASTM
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:
【英文主题词】:tapered;testmethods;modularprostheses;surgicalimplants;force;connections;disassembling
【摘要】:
【中国标准分类号】:C45
【国际标准分类号】:11_040_40
【页数】:4P;A4
【正文语种】:英语
MIL-STD-750E, DEPARTMENT OF DEFENSE TEST METHOD STANDARD: TEST METHODS FOR SEMICONDUCTOR DEVICES (20 NOV 2006)., This standard establishes uniform methods for testing semiconductor devices, including basic environmental tests to determine resistance to deleterious effects of natural elements and conditions surroundingmilitary operations, and physical and electrical tests. For the purpose of this standard, the term "devices" includessuch items as transistors, diodes, voltage regulators, rectifiers, tunnel diodes, and other related parts. This standard is intended to apply only to semiconductor devices.
