IEC 61967-8-2011 集成电路的电磁辐射测量.第8部分:IC带状线法测量辐射干扰

作者:标准资料网时间:2024-05-01 03:39:04 浏览:9545 来源:标准资料网

【英文标准名称】:Integratedcircuits-Measurementofelectromagneticemissions-Part8:Measurementofradiatedemissions-ICstriplinemethod
【原文标准名称】:集成电路的电磁辐射测量.第8部分:IC带状线法测量辐射干扰
【标准号】:IEC61967-8-2011
【标准状态】:现行
【国别】:国际
【发布日期】:2011-08
【实施或试行日期】:
【发布单位】:国际电工委员会(IX-IEC)
【起草单位】:IEC/SC47A
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:
【英文主题词】:Currentmeasurement;Definitions;Electricalengineering;Electromagneticcompatibility;Electromagneticradiation;Electronicequipmentandcomponents;EMC;Emission;Frequencyranges;Integratedcircuits;Measurement;Measurementconditions;Measurementset-up;Measuringequipment;Measuringtechniques;Printed-circuitboards;Testcertificates;Testcircuits;Testing;Testingconditions;Testingdevices;Voltagemeasuring
【摘要】:
【中国标准分类号】:L56;A55
【国际标准分类号】:31_200
【页数】:34P;A4
【正文语种】:英语

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